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電子電器常見老化試驗(yàn)項(xiàng)目及測試方案

2021-07-12 11:35:55 komeg1990

消費(fèi)類電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)項(xiàng)目和說明

是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時間內(nèi)對元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力,適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn),電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn),考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性,試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測定其性能并與未老化樣的性能予以比較。

老化試驗(yàn)的作用:1.對于工藝制造過程中可能存在的一系列缺陷,如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點(diǎn)等都有較好的篩選效果。2.對于無缺陷的元器件,老化也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

老化試驗(yàn)的項(xiàng)目:

高低溫濕熱老化試驗(yàn):適用于各種復(fù)雜的濕熱老化測試,根據(jù)產(chǎn)品在使用過程中,容易受到溫度和濕度的雙重影響,根據(jù)不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定溫度、濕度變化曲線,以評定是否適合在潮濕的環(huán)境下長期使用。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 15905、GB/T 2573、GB/T 2423,JG/T 25。

光照老化測試模擬自然界全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波,并對材料進(jìn)行耐光性與耐候性加速試驗(yàn)。

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB2423、.ISO 4892、.ISO 11341、ASTM G155、ASTM D4459。

鹽霧腐蝕老化用于模擬大氣中的溶解于水蒸汽中的氯化鈉對涂層、鍍層等保護(hù)程以及金屬地材的腐蝕作用,常進(jìn)行中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速鹽霧測試。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JISZ2371。

關(guān)于科明

廣東科明環(huán)境儀器工業(yè)有限公司簡稱科明(KOMEG)成立于1990年,是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的模擬環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備國際知名企業(yè)。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

KOMEG始創(chuàng)于1990年,全球數(shù)以千萬計客戶的信賴。











持續(xù)為客戶創(chuàng)造價值,做一家有溫度的企業(yè)。

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