科明新品--HAST高加速壽命試驗機
HAST高加速壽命試驗機
HAST高加速壽命試驗機用途：
HAST高加速壽命試驗機·簡稱HAST,產(chǎn)品滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）二極管、三極管、場效應管和可控硅等半導體分立器件,車規(guī)級芯片的高壓高濕加速老化試驗，滿足GB/T2423.40-1997,IEC60068,JESD22試驗標準。
HAST高加速壽命試驗機 型號HAST-35
測試目的：
HAST高加速壽命試驗機是針對非氣密性封裝器件，主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
HAST高加速壽命試驗機常用試驗標準：
GB/T 2423.40 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC 60068-2:66
JESD22-A110D
AEC Q101
JIS C0096-2
其中
1. GB/T 2423.40里面詳細闡述了對進行HAST試驗的試驗箱的具體要求,如升降溫的時間、試驗箱對溫濕度的精度控制要求等。
2. JSD22-A110D詳細闡述了HAST試驗的方法，如建議的試驗條件(如130°C85%RH)、產(chǎn)品Bias如何施加等，另外也對HAST的失效機理進行了說明。
3. AECQ101明確了汽車電子行業(yè)對HAST的具體要求。
4. GB/T 2423.40試驗方法（如下）。
溫度℃ | 相對濕度% | 持續(xù)時間/h | ||
Ⅰ | Ⅱ | Ⅲ | ||
110 | 85 | 96 | 192 | 408 |
120 | 85 | 48 | 96 | 192 |
130 | 85 | 24 | 48 | 96 |
除非相關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，應使用本表的溫度和持續(xù)時間的組合之一。每一種溫度都規(guī)定了三種持續(xù)時間。在110℃、120℃和130℃時，試驗機應維持蒸汽壓力分別約為0.12Mpa、0.17Mpa和0.23Mpa。 | ||||
試驗箱工作空間的溫度容差為士2℃; 試驗箱工作空間的濕度容差為士5%R.H; 試驗持續(xù)時間的容差為0h~+2 h。 | ||||
產(chǎn)品性能指標:
設定溫度: +105 ℃ ～ +142 ℃( 飽和蒸氣溫度 )
濕度范圍: 65 % -100 %蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度：±1%RH
使用壓力: 0.05~0.32Mpa
溫度波動度 : ±0.5℃
溫度顯示精度：0.1℃
濕度波動度：±2.5%RH
容積大?。?5L
